低阻抗分析儀/表面阻抗測試儀

發(fā)布時間：2012/5/8

點(diǎn)擊次數(shù)：1419

低阻抗分析儀/表面阻抗測試儀型號:DP-MCP-T370

四探針方案-觸式度的各種材料的表面電阻率測量。
查找只需按下啟動按鈕，確認(rèn)自動測量能，可自動保持當(dāng)前的測量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。
新增探頭校準(zhǔn)模式。檢查探頭校準(zhǔn)片（另售），以確認(rèn)Roresuta AX測試值的準(zhǔn)確性。
測量數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出到USB存儲器。

規(guī)格
測量方法	四端四探針法施加恒定電流的方法
測量范圍	10 ^-2?10 ⁶ Ω
標(biāo)準(zhǔn)配置	四探針探頭（ASP）AC適配器說明書檢查確認(rèn)書

選項(xiàng)

探頭選項(xiàng)
類型	適用被測試樣品	型號
ESP	對于異類樣本	MCP - TP08P
PSP	小樣本的薄膜	MCP - TP06P
QPP	對于小樣本	MCP - TPQPP
TFP	有關(guān)硅晶片或玻璃基板薄膜	MCP - TFP

校準(zhǔn)塊

型號：MCP - TRF1

文件下載圖片下載

上一條實(shí)驗(yàn)室剪切分散乳化機(jī) 剪切分散乳化機(jī) 分散機(jī)
下一條轉(zhuǎn)動慣量實(shí)驗(yàn)儀

精品亚洲成a人片在线观看少妇,一区二区三区高清视频,少妇被粗大猛进进出出,香港三日本8a三级少妇三级99

低阻抗分析儀/表面阻抗測試儀